Для измерения интенсивности и направления рентгеновского излучения, дифрагированного на кристаллическом объекте. Применяются для решения различных задач рентгеновского структурного анализа.
Используются для определения элементного состава вещества при помощи рентгенофлуоресцентного анализа (РФА).
Для определения строения веществ и материалов, т.е. выяснение расположения в пространстве составляющих их структурных единиц - молекул и белков.
Для трехмерного изображения морфологии образца с субмикронным разрешением
© 1959—2023 TOKYO BOEKI.
All Rights Reserved.