Рентгенофлуоресцентный анализатор с нижним расположением волнового спектрометра.
Компактный, надежный, быстрый прибор для проведения точного рентгенофлуоресцентного анализа широкого класса материалов.
В данном анализаторе реализована классическая, доведенная до совершенства, схема с расположением рентгеновской трубки, блока кристаллов-анализаторов и блока детекторов под поверхностью исследуемого образца.
Опционально анализатор ZSX Primus может быть укомплектован 4-хкиловаттной рентгеновской трубкой с бериллиевым окном толщиной 30 мкм. Это дает огромный выигрыш в интенсивности линий легких и сверхлегких элементов (примерно в 2,7 раза по сравнению со стандартной 3-хкиловаттной трубкой), что существенно повышает точность анализа и снижает пределы обнаружения следовых элементов.
В анализаторе ZSX Primus вакуумная система построена на 2 насосах. Один из них постоянно обеспечивает вакуум в камере гониометра, а второй – в камере образцов. Для анализа жидких проб существует возможность работы в среде газообразного гелия.
Также рентгенофлуоресцентный анализатор ZSX Primus позволяет проводить построение карт распределения элементов в исследуемых образцах с разрешением порядка двухсот-трехсот микрометров. Используя CCD-камеру оператор легко выбирает интересующий его участок анализа, запускает процесс картирования и получает наглядный результат.
Автосменщик с выдвижным лотком на 12, 24, 36 или 48 позиций обеспечивает легкий доступ ко всем образцам, используя одинаковые держатели для всех их типов.
48-позиционный автосменщик образцовВ качестве опции доступна Smart Sample Loading System (SSLS) на 104 образа, распознающая QR-коды.
Smart Sample Loading System (SSLS)При разработке рентгенофлуоресцентного анализатора ZSX Primus особое внимание было уделено простоте обслуживания данного прибора, и, в частности, простоте и быстроте его чистки силами оператора. Например, процесс чистки автосменщика образцов происходит в 3 этапа:
Шаг 1: убираем столик для проб |
Шаг 2: открываем крышку |
Шаг 3: чистим автосменщик |
Запатентованный компанией Rigaku метод рентгенофлуоресцентного анализа жидких проб основан на использовании специального держателя UltraCarry, который позволяет выделить первичный концентрат из жидкого образца на однородный носитель, оптимизированный на увеличение соотношения «сигнал-шум». Данный подход позволяет понизить на два порядка нижний предел обнаружения и предел количественного определения как для легких, так и для тяжелых элементов.
Держатель UltraCarryПроцесс прост и состоит из 4 шагов:
Шаг 1: капаем пробу на держатель UltraCarry |
|
Шаг 2: сушим несколько образцов одновременно в вакуумной сушилке UltraDry |
|
Шаг 3: устанавливаем держатель UltraCarry с пробой в автосменщик анализатора |
|
Шаг 4: на рентгенофлуоресцентном анализаторе Rigaku ZSX Primus получаем результаты анализа |
Нижние пределы обнаружения элементов с использованием держателей UltraCarry.
Элемент | Нижний предел обнаружения, ppb | Элемент | Нижний предел обнаружения, ppb | |
As | 16 | Fe | 18 | |
Pb | 76 | Co | 17 | |
Cr | 26 | Ni | 20 | |
Se | 24 | Cu | 19 | |
F | 1 ppm | Zn | 18 | |
B | 32 ppm | Sr | 25 | |
Cd | 182 | Mo | 27 | |
Na | 76 | Ag | 152 | |
P | 56 | Sn | 40 | |
K | 12 | Sb | 43 | |
V | 34 | Ba | 105 | |
Mn | 16 | Ti | 81 |
Основной подход компании Rigaku заключается в помощи пользователям продуктивные и простые методы анализа воплотился в готовых пакетах для проведения анализов определенных типов, которые включают уникальные конфигурации приборов, стандарты для анализа и специальное программное обеспечение. Они позволяют быстро и без больших усилий получать точные, надежные результаты.
Пакеты включают анализы: смазок, полимеров, огнеупоров, никелевых сплавов, сплавов железа, низколегированных сталей, специальных сталей, латуни, цементов и др.
Пакет “Petro-Pak” для анализа различного топливаКачественный анализ:
- Автоматическая идентификация пика
- Сглаживание, вычитание фона
Количественный анализ:
- Таблицы поправок: Lachance*Traill, DeJohngh, JIS и т.д.
- Линейная, квадратичная и кубическая регрессия, мультиплетная линия
- Метод фундаментального параметра
- «EZ scan» (количественный анализ)
Шаблоны прикладных задач1
Автоматический выбор аналитической зоны1(обнаружение размера маски)
Разделение пиков (функция и стандартный профиль)1
Аппроксимация фона (многоточечная функциональная аппроксимация, указание зоны)
Анализ с фиксированной точностью2
Справочная функция
Функция передачи данных по электронной почте
Универсальная стандартная проба
Программа аналитического моделирования (оценка аналитической глубины, и т.д.)
Определяемые элементы | 4Be—92U |
Оптическая система | Рентгенооптическая схема с дисперсией волны |
Источник рентгеновского излучения | |
Рентгеновская трубка | Трубка с торцевым окном, противокатод из Rh, мощность 4 или 3 кВт |
Высоковольтный генератор |
Высокочастотная инверторная система
Максимальные параметры: 4 кВт, 60 кВ — 150 мА Стабильность: ±0,005% (при нестабильности сетевого напряжения ±10%) Различные защитные схемы Работа в режиме энергосбережения (по заказу |
Охлаждение | Водо-водяной теплообменник (встроенный) |
Спектрометр | |
Устройство смены пробы | Модифицируемое устройство смены проб (в стандартном исполнении на 48 проб) |
Подача проб | Система с воздушным тамбуром |
Максимальный размер пробы | Диам. 51 мм x 30 мм (В) |
Размер аналитической зоны | Макс. диам. 35 мм |
Скорость вращения пробы | 30 об/мин |
Фильтр первичного рентгеновского излучения | Al, Ti, Cu и Zr |
Диафрагма аналитической зоны | 6 размеров с автоматическим механизмом (диам. 35, 30, 20, 10, 1 и 0,5 мм) |
Рассеивающая щель | На 3 положения с автоматическим механизмом Стандартное разрешение, высокое разрешение и низкое разрешение (по заказу) |
Приемная щель | Для сцинтилляционного счетчика (SC) и газового проточного пропорционального счетчика (F-PC) |
Гониометр | Независимый приводной механизм 0-20 |
Угловой диапазон | Счетчик SC: 5°—118°, счетчик F-PC: 13°—148° |
Максимальная скорость сканирования | 1400°/мин (20) |
Повторяемость углового позиционирования | ±0,0005° |
Скорость непрерывного сканирования | 0,1—240°/мин |
Устройство смены кристаллов | Автоматический механизм на 10 кристаллов |
Кристалл-анализатор | (Стандартный) LiF200, Ge, PET, RX25(По заказу) LiF220, RX*4, RX*9, RX35, RX40, RX45, RX61, RX61F, RX75, RX80, TAP |
Вакуумная система | Высокоскоростная вакуумная система (2 насоса) Приспособление для порошковой ловушки (по заказу) |
Система He продувки (по заказу) | Перегородка Есть/Нет (выбор) |
Температурная стабилизация | 36,5°C ±0,1°C |
Спектрометр | |
Детектор | Для тяжелых элементов: сцинтилляционный счетчик
Линейность счетной характеристики: 1000 тыс. отсчетов в секунду Для легких элементов: газовый проточный пропорциональный счетчик Линейность счетной характеристики: 2000 тыс. отсчетов в секунду Система автоматической очистки центральной нити нагревательного типа |
Аттенюатор | Входной-выходной автоматический регулятор (затухание 1/10) |
Обработка данных | |
Аппаратное обеспечение | Компьютер: ПК с Windows®
17-дюймовый ЖК дисплей Цветной струйный принтер Windows — зарегистрированный товарный знак корпорации Microsoft в США и других странах. |
Программное обеспечение | Качественный анализ:
Автоматическая идентификация пика Сглаживание, вычитание фона Количественный анализ: Таблицы поправок: Lachance*Traill, DeJohngh, JIS и т.д. Линейная, квадратичная и кубическая регрессия, мультиплетная линия Метод фундаментального параметра «EZ scan» (количественный анализ) Шаблоны прикладных задач1 Автоматический выбор аналитической зоны1(обнаружение размера маски) Разделение пиков (функция и стандартный профиль)1 Аппроксимация фона (многоточечная функциональная аппроксимация, указание зоны) Анализ с фиксированной точностью2 Справочная функция Функция передачи данных по электронной почте Универсальная стандартная проба Программа аналитического моделирования (оценка аналитической глубины, и т.д.) |
Дополнительные программы |
Программа SQX
«EZ scan» (SQX) Измерение при фиксированном угле1 Анализ тонких пленок Теоретическая поправка на перекрытие Библиотека поправок на дрейф Метод «Photoelectron FP»1 Поправка на атмосферу He1 Поправка на тонкую пленку1 Поправка на примесь1 Библиотека соответствия3 Метод «SQX scatter FP»2 Определитель веществ2 Метод «Quantitative scatter FP» Теоретическая поправка на перекрытие к методу «Quantitative scatter FP» Поправка на диск сплавления (испарение расплава) Поправка на партию Программное управление Анализ временных параметров Энергосбережение Автоматическое отключение питания Механизм наблюдения пробы Функция точечного представления/распределения1 Функция дистанционного управления (VCP)2 |
Аппаратное обеспечение | Автоматическая настройка амплитуды импульсов (PAS)2
Автоматическая очистка центральной нити счетчика (ACC)2 Автоматическая тренировка рентгеновской трубки Функция самодиагностики Дистанционная диагностика (по заказу) |
Цемент | Геология | Утилизация отходов | Производство керамики |
Сталь и сплавы | Разработка месторождений | Драгметаллы | Стекло |
Электронное оборудование | Полимеры | Нефть | Экологический анализ |
© 1959—2023 TOKYO BOEKI.
All Rights Reserved.