Волнодисперсионный рентгенофлуоресцентный спектрометр ZSX Primus II

Прибор ZSX Primus II — новейший представитель серии ZSX компании Rigaku.

Приборы серии ZSX Primus помогут пользователю найти ответ на любой вопрос в любой отрасли промышленности!

Превосходные возможности серии ZSX Primus стали еще шире благодаря применению в ZSX Primus II надтрубочного волнового спектрометра. Новая уникальная конструкция устраняет проблемы с загрязнением оптического тракта. Полностью исключается попадание внутрь прибора вещества, падающего с поверхности образца либо остатка от раздробленной пробы, перекрывающего рентгеновский тракт или падающего на механические компоненты внутрь аналитической и пробоотборной камер.

ZSX Primus II позволяет анализировать состав твердых веществ, порошков и многих жидкостей, делая это быстро, точно и эффективно, как все приборы серии ZSX Primus.

Новая конструкция делает ZSX Primus II самым универсальным и совершенным рентгенофлуоресцентным анализатором (РФА) с волновым спектрометром среди всех имеющихся приборов.

Надтрубочный волновой спектрометр

Надтрубочная конфигурация волнового спектрометра
Повышенная чувствительность к сверхлегким элементам
Получение сильного сигнала при анализе с малым размером пятна (500 мкм)
Новое модульное и усовершенствованное программное обеспечение
Микроанализ и спектрометрическое отображение распределения веществ
Окно трубки 30 мкм
Малые эксплуатационные затраты
Вакуумная система с двумя насосами

Столик с позиционированием в координатах R*Theta устраняет эффекты пространственного распределения первичного рентгеновского излучения и гарантирует проведение высокочувствительного анализа при малых размерах пятна.

Анализ порошков

Быстродействующая вакуумная система
Одна из важнейших особенностей серии ZSX Primus — сдвоенная вакуумная система (для главной камеры и отверстия загрузки пробы), исключающая нарушение уровня вакуума в главной камере во время загрузки и выгрузки пробы.

Порошковая ловушка
Применение ловушки препятствует попаданию мелких частиц пробы в систему вакуумного насоса.

Метод «Scatter FP»

Новый метод позволяет осуществлять точный анализ, не анализируя крупные составляющие сверхлегких элементов. Прежде возникали сложности с точным анализом проб таких веществ как летучая зола, почва, ткань или полимеры, поскольку требовалось точно установить все составляющие.
Применение нового метода «Scatter FP» обеспечивает оценку эффекта таких неанализируемых составляющих по линиям рассеяния. Поскольку при расчете линий рассеяния по этому методу учитывается геометрический эффект, то размер пробы не сказывается на точности анализа. Применение нового метода позволяет легче и точнее осуществлять квазиколичественный анализ (SQX) проб нефтяного типа и сложных для прессования порошковых проб.

Метод «Ultra Carry»

Анализ на микроэлементы по методу «Ultra Carry».
Благодаря возможности поглощения значительного аликвотного количества жидкости, метод «Ultra Carry» позволяет создавать сильно концентрированные образцы. Кроме того, интенсивность фона по методу «Ultra Carry» намного меньше, чем при использовании фильтровальной бумаги. С помощью «Ultra Carry» можно анализировать содержание элементов на уровне ppb (частей на миллиард).

График выше — сравнение 500 мкл образца 1 стандартного раствора SPEX LPC (20 ppm Pb, As, Cr, Se, Cd и т. д.) и холостого контрольного раствора. Благодаря очень малой интенсивности фона метод позволил четко выявить элементы.

Представленные выше таблицы демонстрируют результаты по нижним пределам обнаружения (LLD) и результаты квазиколичественного анализа (нестандартный анализ SQX) по методу «Ultra Carry». Четко прослеживается тесная связь между результирующими и стандартными величинами. Использование SQX позволяет осуществить классификационный анализ жидких проб, не применяя стандартные образцы.

Анализ распределения веществ на печатной плате

Прибор позволяет осуществить анализ распределения веществ, используя пятно диам. 500 мкм. Результаты анализа распределения микроколичеств Cu на печатной плате показаны выше.

Анализ на Pb для бессвинцового припоя на основе Bi

Выше на графике показано присутствие микроколичеств Pb в припое. Для такого анализа важны разрешение и чувствительность. Как видно из графика, достигнуты обе цели.

Шаблоны прикладных задач

Применение шаблонов облегчает анализ, поскольку в шаблонах учтены не только практические условия измерения, но и подготовка проб или другие рекомендации по подготовке анализа.

Комплект для выполнения прикладной задачи:
В комплект входят подготовленные пробы (эталонные стандартные пробы и пробы для коррекции дрейфа), компакт*диск (условия измерения, поправочные коэффициенты и др.), а также инструкция по эксплуатации.

Комплекты под прикладные задачи:
Низколегированная сталь; Специальная сталь, никелевый сплав; Латунь, свинцовая латунь; Тяжелое топливо; Портландцемент. Огнеупоры: глина; кремнезем; огнеупор с большим содержанием глинозема; оксид магния; хром*диоксид циркония; циркон*диоксид циркония.

Качественный анализ:
- Автоматическая идентификация пика
- Сглаживание, вычитание фона

Количественный анализ:
- Таблицы поправок: Lachance*Traill, DeJohngh, JIS и т.д.
- Линейная, квадратичная и кубическая регрессия, мультиплетная линия
- Метод фундаментального параметра
- «EZ scan» (количественный анализ)

Шаблоны прикладных задач¹
Автоматический выбор аналитической зоны¹(обнаружение размера маски)
Разделение пиков (функция и стандартный профиль)¹
Аппроксимация фона (многоточечная функциональная аппроксимация, указание зоны)
Анализ с фиксированной точностью²
Справочная функция
Функция передачи данных по электронной почте
Универсальная стандартная проба
Программа аналитического моделирования (оценка аналитической глубины, и т.д.)

¹Запатентован; ²Подана заявка на патент;

Определяемые элементы	⁴Be—⁹²U
Оптическая система	Рентгенооптическая схема с дисперсией волны
Источник рентгеновского излучения
Рентгеновская трубка	Трубка с торцевым окном, противокатод из Rh, мощность 4 или 3 кВт
Высоковольтный генератор	Высокочастотная инверторная система Максимальные параметры: 4 кВт, 60 кВ — 150 мА Стабильность: ±0,005% (при нестабильности сетевого напряжения ±10%) Различные защитные схемы Работа в режиме энергосбережения (по заказу
Охлаждение	Водо-водяной теплообменник (встроенный)
Спектрометр
Устройство смены пробы	Модифицируемое устройство смены проб (в стандартном исполнении на 48 проб)
Подача проб	Система с воздушным тамбуром
Максимальный размер пробы	Диам. 51 мм x 30 мм (В)
Размер аналитической зоны	Макс. диам. 35 мм
Скорость вращения пробы	30 об/мин
Фильтр первичного рентгеновского излучения	Al, Ti, Cu и Zr
Диафрагма аналитической зоны	6 размеров с автоматическим механизмом (диам. 35, 30, 20, 10, 1 и 0,5 мм)
Рассеивающая щель	На 3 положения с автоматическим механизмом Стандартное разрешение, высокое разрешение и низкое разрешение (по заказу)
Приемная щель	Для сцинтилляционного счетчика (SC) и газового проточного пропорционального счетчика (F-PC)
Гониометр	Независимый приводной механизм 0-20
Угловой диапазон	Счетчик SC: 5°—118°, счетчик F-PC: 13°—148°
Максимальная скорость сканирования	1400°/мин (20)
Повторяемость углового позиционирования	±0,0005°
Скорость непрерывного сканирования	0,1—240°/мин
Устройство смены кристаллов	Автоматический механизм на 10 кристаллов
Кристалл-анализатор	(Стандартный) LiF200, Ge, PET, RX25(По заказу) LiF220, RX4, RX9, RX35, RX40, RX45, RX61, RX61F, RX75, RX80, TAP
Вакуумная система	Высокоскоростная вакуумная система (2 насоса) Приспособление для порошковой ловушки (по заказу)
Система He продувки (по заказу)	Перегородка Есть/Нет (выбор)
Температурная стабилизация	36,5°C ±0,1°C
Спектрометр
Детектор	Для тяжелых элементов: сцинтилляционный счетчик Линейность счетной характеристики: 1000 тыс. отсчетов в секунду Для легких элементов: газовый проточный пропорциональный счетчик Линейность счетной характеристики: 2000 тыс. отсчетов в секунду Система автоматической очистки центральной нити нагревательного типа
Аттенюатор	Входной-выходной автоматический регулятор (затухание 1/10)
Обработка данных
Аппаратное обеспечение	Компьютер: ПК с Windows® 17-дюймовый ЖК дисплей Цветной струйный принтер Windows — зарегистрированный товарный знак корпорации Microsoft в США и других странах.
Программное обеспечение	Качественный анализ: Автоматическая идентификация пика Сглаживание, вычитание фона Количественный анализ: Таблицы поправок: Lachance*Traill, DeJohngh, JIS и т.д. Линейная, квадратичная и кубическая регрессия, мультиплетная линия Метод фундаментального параметра «EZ scan» (количественный анализ) Шаблоны прикладных задач¹ Автоматический выбор аналитической зоны¹(обнаружение размера маски) Разделение пиков (функция и стандартный профиль)¹ Аппроксимация фона (многоточечная функциональная аппроксимация, указание зоны) Анализ с фиксированной точностью² Справочная функция Функция передачи данных по электронной почте Универсальная стандартная проба Программа аналитического моделирования (оценка аналитической глубины, и т.д.)
Дополнительные программы	Программа SQX «EZ scan» (SQX) Измерение при фиксированном угле¹ Анализ тонких пленок Теоретическая поправка на перекрытие Библиотека поправок на дрейф Метод «Photoelectron FP»¹ Поправка на атмосферу He¹ Поправка на тонкую пленку¹ Поправка на примесь¹ Библиотека соответствия³ Метод «SQX scatter FP»² Определитель веществ² Метод «Quantitative scatter FP» Теоретическая поправка на перекрытие к методу «Quantitative scatter FP» Поправка на диск сплавления (испарение расплава) Поправка на партию Программное управление Анализ временных параметров Энергосбережение Автоматическое отключение питания Механизм наблюдения пробы Функция точечного представления/распределения¹ Функция дистанционного управления (VCP)²
Аппаратное обеспечение	Автоматическая настройка амплитуды импульсов (PAS)² Автоматическая очистка центральной нити счетчика (ACC)² Автоматическая тренировка рентгеновской трубки Функция самодиагностики Дистанционная диагностика (по заказу)

¹Запатентован; ²Подана заявка на патент; ³Варианты, предусматриваемые при заказе SQX.

Цемент	Геология	Утилизация отходов	Производство керамики
Сталь и сплавы	Разработка месторождений	Драгметаллы	Стекло
Электронное оборудование	Полимеры	Нефть	Экологический анализ

Продукция

Применение

Сервис

Запрос

Новости

Контакты