Настольный рентгеновский дифрактометр MiniFlex-600

Дифрактометр 5-го поколения MiniFlex-600 – многофункциональный прибор широкого назначения, предназначенный для проведения качественного и количественного фазового анализа поликристаллических материалов.
MiniFlex доступен в двух модификациях. Благодаря мощности трубки 600 Вт, MiniFlex – 600 становится вдвое мощнее других настольных моделей. Это позволяет проводить быстрее анализ и повысить общую производительность при проведении исследований. Другая модель MiniFlex 300, благодаря малой мощности (мощность рентгеновской трубки 300 Вт) не нуждается в использовании внешней системы охлаждения. Новые возможности MiniFlex обеспечат вам максимум гибкости при проведении анализа.

Новая модель дифрактометра 5-го поколения MiniFlex идеально подходит для проведения быстро развивающегося сегодня анализа методом рентгеновской дифрактометрии. Дифрактометр обеспечивает скорость и чувствительность с помощью инновационных технологических усовершенствований, таких как высокоскоростной D/teX детектор (опция) в сочетании с новым 600 Вт источником рентгеновского излучения. Графитовый монохроматор (опция) в сочетании со стандартным сцинтилляционным счетчиком увеличивает чувствительность за счет оптимизации соотношения сигнал-фон. Если разрешение имеет первостепенное значение, варьируемые щели на падающий и дифрагированный пучок позволят вам добиться необходимого разрешения. Для обеспечения высокой пропускной способности, MiniFlex - единственный настольный рентгеновский дифрактометр, снабженный автоматическим загрузчиком образцов. Обучение рентгеновской дифракции в колледжах и университетах или ежедневный контроль качества на производстве, - MiniFlex обеспечит производительность и хорошие данные.

Каждый дифрактометр MiniFlex поставляется с последней версией программного обеспечения PDXL. PDXL – пакет программ с полным набором функций для обработки данных порошковой дифрактометрии, являющихся собственной разработкой компании Rigaku. Последняя версия PDXL включает в себя несколько новых важных функций, в частности, метод Фундаментальных Параметров для более точного определения положения пика, автоматизированный качественный рентгенофазовый анализ с использованием открытой кристаллографической базы данных (COD) и пользовательский интерфейс для расшифровки структуры исходя из первых принципов (ab initio).

Представленный компанией Ригаку в 1973 году на рынке MiniFlex, был разработан с целью предоставления начинающему пользователю возможности получать такие же надежные результаты, какие получает опытный специалист, используя стандартный большой многоцелевой дифрактометр. Новый дифрактометр MiniFlex сохраняет характеристики, сделавшие его популярным на протяжении многих лет, включая компактные размеры и прочную конструкцию. Это позволяет устанавливать инструмент в ограниченном пространстве, он прост в работе и обслуживании и с очень низкой стоимостью владения.

ОБЗОР:

• Новый дизайн 5-ого поколения
• Компактный, предохраняющий от излучения корпус
• Варьируемые щели на падающий пучок
• Простая установка и обучение пользователей
• Выверенный на заводе гониометр
• Управление с использованием портативного компьютера

ОБЛАСТИ ПРИМЕНЕНИЯ:

• Качественный фазовый анализ
• Количественный фазовый анализ
• Определение степени кристалличности
• Определение размера кристаллитов и уровня искажений кристаллической решетки
• Уточнение параметров решетки
• Уточнение структуры материала методом Ритвельда
• Определение молекулярной структуры

ПРИМЕРЫ ПРИМЕНЕНИЯ:

• Цементы
• Химические реагенты
• Косметика
• Образование
• Окружающая среда
• Продукты питания
• Наука
• Криминалистика
• Геология и минералогия
• Краски и покрытия
• Нефтехимия
• Фармацевтика
• Контроль качества и анализ отказов

MiniFlex принадлежности:

• 6-ти позиционный автоматический сменщик образцов
• Графитовый монохроматор
• Высокоскоростной кремниевый полосковый детектор D/teX Ultra
• Держатель образца с функцией защиты от атмосферы
• Дорожный футляр

ASC-6: автозагрузчик на 6 образцов с функцией вращения.

Автозагрузчик на 6 образцов компактен и надежен. Встроенная функция вращения улучшает статистику при измерении поликристаллических материалов. Полностью автоматическое выравнивание. Программируемый.

Держатели образцов

Доступны различные типы держателей образцов, чтобы удовлетворить потребности любой лаборатории.

Устройство вращения образца

Устройство вращения образца позволяет непрерывное вращение образца с различной скоростью, чтобы улучшить статистику во время проведения измерения.

Графитовый монохроматор

В сочетании со стандартным сцинтилляционным счетчиком позволяет значительно снизить фон паразитного флуоресцентного излучения от материалов, содержащих Mn, Fe, Co и Ni, и повысить соотношение сигнал/фон.

Держатель образца с функцией защиты от атмосферы

Предназначен для работы с образцами, которые могут разрушиться под воздействием кислорода.

D/teX Ultra – Высокоскоростной линейный детектор

Однокоординатный (1D) кремниевый полосковый детектор (опция) с высоким разрешением.

Несмотря на размер, настольный дифрактометр MiniFlex включает в себя технологию обычно зарезервированную для больших и дорогостоящих систем. Компактные размеры и исключительное соотношение цена-производительность позволяют пользователям проводить рентгенофазовый анализ как в лаборатории, так и в полевых условиях — там, где это ранее считалось невозможным из-за бюджетных ограничений или местоположения.

Программное обеспечение	Настройка параметров системы	Программы управления и проведения измерений под управлением ОС Windows 7
	Обработка данных	PDXL Базовый пакет
Источник рентгеновского излучения	Мощность трубки	600 Вт
	Напряжение на трубке	От 20 до 40 кВ
	Ток трубки	От 2 до 15 мА
	Заслонка	Заслонка роторного типа с блокировкой
	Материал анода	Cu, Co, Fe, or Cr
Оптика	Фиксированная щель DS (на выходной пучок)	1.25°, 0.625°
	Варьируемые щель DS (выходной пучок)	Используется при углах меньше 67° (2Θ), при больших углах щель DS полностью открыта
	SS (На дифрагированный пучок)	1.25°
	RS (Приемная щель)	0.3 мм
	фильтр	Kβ фильтр
	Монохроматор	Графитовый монохроматор (опция)
	Щель Соллера	Расходимость пучка на выходе 2.5° или 5.0° (опция)
Гониометр	Тип гониометра	Вертикальный
	Радиус гониометра	150 mm
	Диапазон углов сканирования	От -3° до 145° (сканирование зависимое Θ-2Θ)
	Скорость сканирования	От 0.01° до 100°/мин (2Θ)
	Минимальный шаг	0.005° (2Θ)
	Разрешение	Не менее 0.02°
Детектор	Сцинтилляционный счетчик	Кристалл NaI (Tl) диаметр входной апертуры 23.0 мм
	Монохроматор	Kβ фильтр / Графитовый монохроматор (опция)
	D/teX Ultra2 (опция)	Кремниевый полосковый детектор
Размеры	Основной шкаф	560 (ширина) x 700 (высота) x 460 (глубина) (мм)
	Устройство охлаждения (опция)	460 (ширина) x 570 (высота) x 510 (глубина) (мм)
Вес	Основной шкаф	Приблизительно 80 кг
	Устройство охлаждения (опция)	Приблизительно 50 кг
Электропитание	Основной шкаф	от 100 до 240±10% В (перем.), 1 фаза
	Компьютер	100 В (перем.) ±10%, 1 фаза 50/60 Гц ±1% 0.7 кВт
	Устройство охлаждения (опция)	100 В ±10% (перем.) 1 фаза 50/60 Гц ±1%, 1.1 кВт
Охлаждающая вода	Давление	От 0.16 до 0.30 мПа (Давление должно быть стабильным.)
	Расход	От 3.5 до 5.0 л/мин (Расход должен быть стабильным.)
	Температура	От 5 до 25°С (Температура должна быть стабильной.)
Требования к окружающей среде	Температура в помещении	От 15 до 25°С
	Относительная влажность	Не более 65% (отн.) (выпадение росы исключено)

Аналитическое программное обеспечение PDXL

Полнофункциональный аналитический пакет для порошковой дифракции от компании Ригаку. Модульный дизайн и автоматизированный последовательный порядок выполнения процедур пользовательского интерфейса предоставляют доступ к возможностям рентгеновской дифракции неопытным пользователям. Последняя версия PDXL содержит несколько важных новых функциональных возможностей, включая метод фундаментальных параметров (ФП метод) для более аккуратного вычисления положения пика, распознавания фаз, используя открытую кристаллографическую базу данных (COD) и Wizard для анализа первоначальной структуры кристаллов.

Возможности пакета PDXL:

• Поиск/Согласование
• Определение степени кристалличности
• Уточнение параметров решетки
• Индексирование
• Разрешение первоначальной структуры
• Количественный анализ
• Размер кристаллитов и напряженности
• Фитирование полного профиля дифракционных отражений образца
• Уточнение структуры методом Ритфельда