Разработанный Уго Ритвельдом, метод рентгеновского анализа с целью уточнения структуры материала, нашел свое применение, как исключительно ценный подход для структурного анализа практически всех классов кристаллических материалов, не доступных в виде монокристаллов.
Метод Ритвельда – программный подход, который улучшает различные показатели, включая параметры решетки, ширину пика, форму пика и преимущественную ориентацию, чтобы получить расчетную дифракционную картину. После того, как полученная модель с высокой степенью соответствует данным неизвестного образца, различные его свойства могут быть уточнены, в том числе: точная количественная информация, размер кристаллитов, координаты атомов, заселенность атомов и т.д. Процесс уточнения модели требует общета большого объема данных и занимает несколько минут для вычисления результатов многокомпонентной смеси. Анализ методом Ритвельда имеет преимущество, по сравнению с обычным количественным анализом, так как для достижения точных результатов в пределах ± 1% не требуется стандарты. До введения этого метода, точной и безэталонный количественный фазовый анализ сложных материалов с использованием порошковой дифракции был практически невозможен.
© 1959—2023 TOKYO BOEKI.
All Rights Reserved.