Микродифракция

Рентгеновский дифракционный анализ малых образцов или участков, включая картирование

Рентгеновский дифракционный анализ (XRD), проводимый на малых образцах или малых участках больших образцов, называется микродифракцией. Данная методика применяется в тех случаях, когда образцы либо слишком малы для исследований традиционными методами, либо велики, но неоднородны, и картины дифракции зависят от положения рентгеновского пятна на образце. С появлением возможности аккуратно и точно позиционировать малый рентгеновский луч на поверхности образца, становится возможным построение его дифракционной карты (DFM). В этом случае дифракционные данные могут содержать информацию о типе вещества, его кристаллографической ориентации (текстуре), механических напряжениях, структурном упорядочении и размерах кристаллитов. Область применения микродифракции быстро расширяется, поскольку малые домены сильно влияют на выход полезной современной продукции и ее надежность. Области применения микродифракционного рентгеновского анализа включают: контактные площадки для испытаний на пластинах с нанесенным рисунком, массивы веществ, сформированные комбинаторной химией, включения в геологических образцах, анализ причин отказа металлических или пластиковых компонент, контроль качества выпускаемой продукции.

SmartLAB
Многофункциональный рентгеновский дифрактометр

Ultima IV
Многофункциональный рентгеновский дифрактометр

SmartLab 3
Универсальный многоцелевой рентгеновский дифрактометр со встроенной системой интеллектуального управления