Низкотемпературная дифракция

Изучение динамических процессов, которые необходимо исследовать in situ

Рентгеновская дифракция (XRD) в условиях, отличных от нормальных, может быть использована в различных приложениях, включая исследования динамических процессов, которые необходимо исследовать in situ. Примерами таких процессов являются твердотельные реакции, фазовые переходы, рост кристаллов, тепловое расширение и т.п. Рентгеновская дифрактометрия может быть использована как очень информативное дополнение других, традиционных термоаналитических методик (термогравиметрии, дифференциальной сканирующей калориметрии и др.), предоставляя информацию по идентификации фаз, анализу текстуры, и размерам кристаллитов.

SmartLAB
Многофункциональный рентгеновский дифрактометр

Ultima IV
Многофункциональный рентгеновский дифрактометр

SmartLab 3
Универсальный многоцелевой рентгеновский дифрактометр со встроенной системой интеллектуального управления